光学质量控制平台 SL-Sys neo
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光学质量控制平台 SL-Sys neo

       SL-Sys 产品系列为工业透镜生产商提供了一个独特的光学质量控制平台。它能够全面地测量及评价透镜的光学质量，从而超越了现有的仅仅依靠焦距与MTF的方法。此外，它还可以帮助您优化产品设计、建立产品标准等。

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商品描述

       SL-Sys 产品系列为工业透镜生产商提供了一个独特的光学质量控制平台。它能够全面地测量及评价透镜的光学质量，从而超越了现有的仅仅依靠焦距与MTF的方法。此外，它还可以帮助您优化产品设计、建立产品标准等。

       小透镜光学质量分析仪 SL-Sys neo用于小口径正透镜的光学质量控制

产品型号SL-Sys neo 32SL-Sys neo 76

空间分辨率（微透镜个数）

32 × 4076 × 100
可匹配的通光口径1.5 mm～6.7 mm1.5 mm～12.0 mm
视场角±45°
波前测量灵敏度0.01 λ
检测波长532 nm、635 nm
焦距测量灵敏度优于 0.5%
像差测量√
3D-MTF测量√
MTF测量灵敏度优于 0.005
MTF最大采集频率1000 lp/mm