产品特点：
● 绝对测量精度高 λ/100
● 极高的波前测量动态范围 (可达 1500 λ)
● 空间分辨率高 (可达 128×128)
● 可以直接测量发散光或会聚光的波前
● 可以测量PSF、MTF、M2、Strehl ratio等参数
● 可提供三种语言的软件开发包：C，LabVIEW，MATLAB
应用领域：
● 激光波前/强度检测
● 自适应光学， 如：强激光、天文望远、生物显微、激光通讯等
● 光学元器件性能检测，如：标准透镜/非球面透镜性能检测、球面镜检测、平面镜检测等
● 复杂光学系统的检测与装调，如：平行光管、望远镜系统、高级相机的检测与装调、复杂光学系统的光学调整等
规格指标：
| 产品型号 | HASO3 128 GE2 |
| 产品描述 | 高分辨率 |
| 通光口径(mm) | 14.6 × 14.6 |
| 微透镜个数 | 128 × 128 |
| 空间分辨率 | ~ 110 μm |
| 倾斜测量范围 | > ±3° (1500 λ) |
| 倾斜测量灵敏阈 | <1 μrad |
| 曲率半径测量范围 | ±0.015 m ~ ±∞ |
| 曲率测量灵敏阈 | 2.5×10-4 m-1 |
| 可测最大NA值 | > 0.1 |
| 重复性精度 | < λ/200 |
| 相对波前测量精度 | ~ λ/150 |
| 绝对波前测量精度 | ~ λ/100 |
| 最大采集频率 | 7.5 Hz |
| 数据处理频率 | 5.0 Hz(@ CPU 3GHz, RAM 512M) |
| 外触发方式 | TTL |
| 工作波段 | 400~1100 nm |
| 校准波段 | A (400~600 nm) / B (500~700 nm) / C (630~900 nm) / D (800~1100 nm) |
| 扩展校准波段(可选) | A† (400~700 nm)
B† (500~900 nm) |
| 尺寸(mm) | 115 × 51 × 60 |
| 重量 | 400 g |
| 工作温度 | 15~30 °C |
| 电气接口 | Giga Ethernet |
| 额定功率 | 6 W |
| 操作系统 | Win7 (x86/x64) |
| 测量软件 | WaveView |
