波前传感器HASO3 FAST
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波前传感器HASO3 FAST

       波前传感器HASO3产品系列基于Shack-Hartmann技术,能够同时对相位和强度进行直接测量,测量快速、准确;集成化设计使之体积十分小巧,对环境震动不敏感,是工业领域与科研领域的理想选择。

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商品描述

       波前传感器HASO3产品系列基于Shack-Hartmann技术,能够同时对相位和强度进行直接测量,测量快速、准确;集成化设计使之体积十分小巧,对环境震动不敏感,是工业领域与科研领域的理想选择。


产品特点:

●  绝对测量精度高 λ/100

●  极高的波前测量动态范围 (可达 1500 λ)

●  空间分辨率高 (可达 128×128)

●  可以直接测量发散光或会聚光的波前

●  可以测量PSF、MTF、M2、Strehl ratio等参数

●  可提供三种语言的软件开发包:C,LabVIEW,MATLAB


应用领域:

●  激光波前/强度检测

●  自适应光学, 如:强激光、天文望远、生物显微、激光通讯等

●  光学元器件性能检测,如:标准透镜/非球面透镜性能检测、球面镜检测、平面镜检测等

●  复杂光学系统的检测与装调,如:平行光管、望远镜系统、高级相机的检测与装调、复杂光学系统的光学调整等


规格指标:


产品型号HASO3 FAST
产品描述高速 (接近1kHz)
通光口径(mm)1.7× 1.7
微透镜个数14 × 14
空间分辨率~ 110 μm
倾斜测量范围> ±3°
倾斜测量灵敏阈6 μrad
曲率半径测量范围±0.025 m ~ ±∞
曲率测量灵敏阈5×10-3 m-1
可测最大NA值0.1
重复性精度< λ/200
相对波前测量精度~ λ/150
绝对波前测量精度~ λ/100
最大采集频率905 Hz
数据处理频率800 Hz(@ CPU 3GHz, RAM 512M)
外触发方式TTL
工作波段400~1100 nm
校准波段A (400~600 nm)  /  B   (500~700 nm)  /  C (630~900 nm)  /  D   (800~1100 nm)
扩展校准波段(可选)

A† (400~700 nm)


B† (500~900 nm)


C† (650~1100 nm)

尺寸(mm)115 × 51 × 60
重量400 g
工作温度15~30 °C
电气接口Cam Link
额定功率6 W
操作系统Win7 (x86/x64)
测量软件WaveView