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  • 近红外光谱仪 SR-NIR
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  • 近红外光谱仪 SR-NIR

           最近,对测量近红外光谱区域的需求有所增加,但是,特别是在FPD和照明市场,没有方便且高精度的测量仪器。在这种情况下,我们基于我们著名的SR-3AR技术开发了近红外光谱仪SR-NIR。而且,您可以使用其他SR系列和SR-NIR测量从380nm到1030nm的光谱辐射。

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商品描述

       最近,对测量近红外光谱区域的需求有所增加,但是,特别是在FPD和照明市场,没有方便且高精度的测量仪器。在这种情况下,我们基于我们著名的SR-3AR技术开发了近红外光谱仪SR-NIR。而且,您可以使用其他SR系列和SR-NIR测量从380nm到1030nm的光谱辐射。


特征

■ 从平板显示器

可测量近红外光谱区域的超弱光信号 ■ 高精度测量近红外光谱区域。

■ 可由其他SR系列和SR-NIR同时测量380nm至1030nm的近红外光谱。


主要用途

■ 用于测量FPD的近红外光谱区域,如LCD和OLED。

■ 用于测量Ne、Ar线谱。

■ 用于测量薄膜片材在近红外光谱区域的透射特性。

■ 来自其他光源的近红外光谱区域。


规格


光电探测器电子冷却线性 CCD
分散元件衍射光栅
光学系统目标镜头 : f = 82mm F2.5, 目镜镜头 : 5° 视场
测量角度2°/1°/0.2°/0.1°可选(电机驱动)
最小测量面积2°: 10.0 mmφ
1°: 4.99 mmφ
0.2°: 1.0 mmφ
0.1°: 0.5 mmφ
测量距离350mm – ∞(距物镜金属尖端的距离)
波长范围600 – 1030nm
频谱带宽6 – 8nm (半带宽)
波长分辨率1纳米
测量模式自动/手动(积分时间/频率)
测量对象光谱辐射度 : W・sr-1・m-2・海里-1
计算功能光谱辐射 : 600 – 1030nm
测量范围(*1)2° : 0.5 – 3,000 cd/m2
1° : 1 – 9,000 cd/m2
0.2° : 20 – 70,000 cd/m2
0.1° : 100 – 300,000 cd/m2
重复性(*2)±2%以下
极化误差光谱辐射 5% 或更低
校准标准托普康标准灯(标准光源A,23°C±3°C,65%RH以下)
测量时间(*3)约 1 – 31 秒
接口RS-232C, USB 2.0
电源专用交流适配器 AC100V-240V, 50/60Hz,
功耗约34W
使用条件温度:5 – 35°C,湿度:80%RH或更低(无冷凝)
外部尺寸(宽×深×高)150×406×239毫米
重量约5.5公斤

*1 本产品没有亮度测量,所以这是标准光源A的参考数据,

*2波长从600到1030nm,对于TOPCON标准光源。

*3 与PC的通信时间除外。


测量区域


测量
角度
测量距离 [毫米]*
35050080010002000
10.015.125.432.266.4
4.997.5512.716.133.2
0.2°1.001.512.543.226.64
0.1°0.500.761.271.613.32

*测量距离是与物镜仪器上金属夹具尖端的距离。



辅料

■ 连接镜头 : AL-6

■ 连接镜头 : AL-11

■ 连接镜头 : AL-12

■ CCD 适配器 : IA-2

■ 光纤探头 : FP-3P

■ 三脚架 5N : 三脚架 5N

■ 三脚架 : 三脚架 SR

■ 精细控制台 : S-4


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