X射线劳厄背散射相机

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X射线劳厄背散射相机

X射线穿过相机，并使用孔径准直至直径<1mm，或者相机可以与多毛细管聚焦光学元件和50W X射线源组合结合使用，在目标材料上提供小的，高强度的X射线点。有效面积输入尺寸与宝丽来薄膜相似，即156 mm x 104.4 mm。可以设置从几秒钟到30分钟的曝光。在切割样品之前，可以获得手动或自动晶体取向。晶体生长过程中发生的孪生结构可以使用高分辨率模式显现出来。
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商品描述

X射线穿过相机，并使用孔径准直至直径<1mm，或者相机可以与多毛细管聚焦光学元件和50W X射线源组合结合使用，在目标材料上提供小的，高强度的X射线点。有效面积输入尺寸与宝丽来薄膜相似，即156 mm x 104.4 mm。可以设置从几秒钟到30分钟的曝光。在切割样品之前，可以获得手动或自动晶体取向。晶体生长过程中发生的孪生结构可以使用高分辨率模式显现出来。

规格

探测器材料	HgCdTe / CdTe GaAs InSb
窗材料和压电/铁电陶瓷	Al203 石英 LiNb03
金属和合金	钨钼镍基合金
激光材料	YAGM LuAg KTP
薄膜/半导体基板	AlN InP SiC
磁性和超导材料	YBCO/BSCCO/HBCCO FeSe NbSn / NbTi
闪烁体材料	BGO / LYSO CdWO4 BaF2/CaF2