从 LumiTop 2700 发展而来的 LumiTop 4000 可检测并分析更小的缺陷和不均匀性,与 100 mm 镜头配合使用时,可进行单像素分析(有限视场)。由于采用了 HW 触发器,因此它也适用于采用定时测量过程的应用(例如 µLED 晶圆的光学测试)。其高亮度模式扩展了动态范围,特别适合测量调制显示屏和光源(如 OLED 显示屏)。
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用于生产制程中,显示屏质量控制的全球公认测量仪器(与 CAS 系列光谱仪结合使用)
提供 600 万或 1200 万像素的型号
高测量速度和高测量准确度
丰富的 LumiSuite 软件(GUI 和 SDK)
全面评估亮度和色度均匀性、色差、像素缺陷、对比度、伽马曲线、白点、闪烁和亮度调节以及中心点的光谱分析
29 mm 标准镜头 /
11 mm 广角镜头
高亮度模式
(用于调制光源)
LumiTop 产品手册 https://aosspic10001.websiteonline.cn/pmo1b5087/doc/LumiTop_Series_EN.pdf
LumiTop 4000数据表https://aosspic10001.websiteonline.cn/pmo1b5087/doc/LumiTop4000_macro-lens_EN.pdf
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