高光谱成像仪SNAPSCAN VNIR

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高光谱成像仪SNAPSCAN VNIR

Imec的snapscan VNIR测距系统是高光谱成像应用研究的一个重大突破。在短短的几百毫秒内，就可以创建高质量的超立方体数据集，具有无与伦比的信噪比和空间及光谱分辨率。snapscan演示套件能够实现最高质量的应用研究，同时还具有用户友好性。它集成了所有必要的关键部件：光谱图像传感器、照相机、光学器件、压电扫描、主动冷却系统、照明、三脚架支架和HSImager：imec研究团队开发的最先进的高光谱成像软件。
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商品描述

Imec的snapscan VNIR测距系统是高光谱成像应用研究的一个重大突破。在短短的几百毫秒内，就可以创建高质量的超立方体数据集，具有无与伦比的信噪比和空间及光谱分辨率。snapscan演示套件能够实现最高质量的应用研究，同时还具有用户友好性。它集成了所有必要的关键部件：光谱图像传感器、照相机、光学器件、压电扫描、主动冷却系统、照明、三脚架支架和HSImager：imec研究团队开发的最先进的高光谱成像软件。

规格

空间分辨率	高达 3650 x 2048 px (每带7Mpx RAW)
光谱分辨率	100多个波段（近红外版本）或150多个波段（VNIR版本）
光谱范围	600-970nm（近红外版本）或470-900纳米（VNIR版本）
FWHM	~ 10 - 15 nm（准直）
采集速度	~ 200ms - 20秒，取决于采集参数、照明和物体)
信噪比	> 100 - 200，在光谱范围内信噪比平稳
SW扫描模式	数字TDI（最多5-8级）多重曝光HDR(高动态范围) HDR曝光（1-10）数字分选（2x2，3x3，4x4）光谱ROI-感兴趣区域( 最多1至8个波段) 空间ROI-感兴趣区域 ( 2048 x 自定义扫描长度)
动态范围	8/10 位
光学元件	20/24/35/50毫米镜头 - F2.0 - C-卡口
Smile & keystone	软件纠正
接口	USB3.0 + GPIO + I/O用于触发
冷却	被动和主动冷却（基于风扇+TEC）
环境工作温度	35℃至45℃（操作），5℃至50℃（运输）
机械	用于自动暗计数的集成机械快门，三脚架安装（¼''-20）+侧面安装M5孔
尺寸（长x宽x高）	10 x 7 x 6.5 cm
重量	580 g（不含光学器件）