010-61590500
首页 ＞ 科研专用分析仪器 品牌 ＞ 光学检测分析仪器 Phasics ＞ 波前分析仪 ＞ SID4-UV波前传感器
品牌：​
产品类型：​
  • SID4-UV波前传感器
    ❤ 收藏

  • SID4-UV波前传感器

           作为最低可至波长250 nm的高分辨率波前传感器，SID4-UV非常适合于紫外光学测量，包括用于光刻或半导体应用紫外激光表征，以及透镜和晶圆的表面面型检测。

    • ￥0.00
      ￥0.00
      ￥0.00
      ￥0.00
      ￥0.00

    • 满意度：

      销量： 0

      评论： 0 次

    产品重量:0.00KG
    • 数量：
    • (库存99999)
商品描述

       作为最低可至波长250 nm的高分辨率波前传感器，SID4-UV非常适合于紫外光学测量，包括用于光刻或半导体应用紫外激光表征，以及透镜和晶圆的表面面型检测。

主要特点

250 x 250超高相位取样分辨率

2 nm RMS高相位灵敏度

紫外波段波前测量的通用解决方案


产品规格

波长范围250 - 400 nm
靶面尺寸7.4 x 7.4 mm²
空间分辨率29.6 µm
取样分辨率250 x 250
相位分辨率2 nm RMS
绝对精度10 nm RMS
取样速度30 fps
实时处理速度*> 2 fps (全分辨率下)*
接口种类以太网口
尺寸（宽x高x长）45 x 30 x 100 mm³
重量约250g

    *使用官方配置电脑搭载SID4软件环境下


  • 购买人 会员级别 数量 属性 购买时间
    • 总计 0 条记录
  • 商品满意度 ：
暂无评价信息

定制流程

用心服务客户，用专业成就品牌

联系我们

CONTACT US

成为VIP客户

Become a VIP customer

仓库发货

Warehouse delivery

下单付款

Order payment

产品需求

product demand

制定解决方案

Custom design