波前传感器HASO4产品系列基于Shack-Hartmann技术，能够同时对相位和强度进行直接测量，测量快速、准确；集成化设计使之体积十分小巧，对环境震动不敏感，是工业领域与科研领域的理想选择。
波前传感器HASO4产品系列所拥有的独特的出厂校准、先进的软件和高质量的微透镜阵列，保证了其优异的性能。
产品特点：
● 绝对测量精度高
● 波前测量动态范围大
● 能够测量64项Zernike系数，每项系数测量精度优于 2 nm
● 可以直接测量发散光或会聚光的波前
● 可以测量PSF、MTF、M2、Strehl ratio等参数
● 可提供三种语言的软件开发包：C，LabVIEW，MATLAB
● USB 3.0 接口
应用领域：
● 激光波前/强度检测
● 自适应光学， 如：强激光、天文望远、生物显微、激光通讯等
● 光学元器件性能检测，如：标准透镜/非球面透镜性能检测、球面镜检测、平面镜检测等
● 复杂光学系统的检测与装调，如：平行光管、望远镜系统、高级相机的检测与装调、复杂光学系统的光学调整等
规格指标：
| 产品型号 | HASO4 Broadband |
| 产品描述 | 400~1100 nm全波段校准 |
| 通光口径(mm) | 7.0 × 5.2 |
| 微透镜个数 | 68 × 50 |
| 空间分辨率 | ~ 105 μm |
| 倾斜测量范围 | > ±3° |
| 倾斜测量灵敏阈 | 3 μrad |
| 曲率半径测量范围 | ±0.026 m ~ ±∞ |
| 曲率测量灵敏阈 | - |
| 可测最大NA值 | 0.1 |
| 重复性精度 | < λ/200 |
| 相对波前测量精度 | ~ λ/150 |
| 绝对波前测量精度 | < 6nm (400~600 nm)
< λ/100 (600~1100 nm) |
最大采集频率 | 20 Hz |
| 外触发方式 | TTL |
| 工作波段 | 400~1100 nm |
校准波长 | 400~1100 nm |
| 尺寸(mm) | 46 × 57 × 57 |
| 重量 | 150 g |
| 工作温度 | 15~30 °C |
| 电气接口 | USB 3.0 / Ethernet |
| 额定功率 | 2.9 W |
| 操作系统 | Win7 (x86/x64) |
| 测量软件 | WaveView |
