波前传感器HASO4产品系列基于Shack-Hartmann技术,能够同时对相位和强度进行直接测量,测量快速、准确;集成化设计使之体积十分小巧,对环境震动不敏感,是工业领域与科研领域的理想选择。
波前传感器HASO4产品系列所拥有的独特的出厂校准、先进的软件和高质量的微透镜阵列,保证了其优异的性能。
产品特点:
● 绝对测量精度高
● 波前测量动态范围大
● 能够测量64项Zernike系数,每项系数测量精度优于 2 nm
● 可以直接测量发散光或会聚光的波前
● 可以测量PSF、MTF、M2、Strehl ratio等参数
● 可提供三种语言的软件开发包:C,LabVIEW,MATLAB
● USB 3.0 接口
应用领域:
● 激光波前/强度检测
● 自适应光学, 如:强激光、天文望远、生物显微、激光通讯等
● 光学元器件性能检测,如:标准透镜/非球面透镜性能检测、球面镜检测、平面镜检测等
● 复杂光学系统的检测与装调,如:平行光管、望远镜系统、高级相机的检测与装调、复杂光学系统的光学调整等
规格指标:
产品型号 | HASO4 NIR |
产品描述 | 近红外波段 |
通光口径(mm) | 3.6 × 4.5 |
微透镜个数 | 32 × 40 |
空间分辨率 | ~ 110 μm |
倾斜测量范围 | > ±3° |
倾斜测量灵敏阈 | 10 μrad |
曲率半径测量范围 | ±0.018 m ~ ±∞ |
曲率测量灵敏阈 |
|
可测最大NA值 |
|
重复性精度 | < λ/70 |
相对波前测量精度 | ~ λ/50 |
绝对波前测量精度 | ~ λ/35 |
最大采集频率 | 100Hz |
外触发方式 | TTL |
工作波段 | 1500~1600 nm |
校准波长 | 1500~1600 nm |
尺寸(mm) | 46 × 57 × 57 |
重量 | 150 g |
工作温度 | 15~30 °C |
电气接口 | USB 3.0 |
额定功率 | 2.7 W |
操作系统 | Win7 (x86/x64) |
测量软件 | WaveView |